干膜測厚儀

測試原理：
涂層上表面和暴露基材區域間的高度差（ D ）通過表盤下自由移動的插針 (1) 測量，兩個支腳 (2) 置于涂層表面。
表盤儀器密閉在一鍍鉻的金屬殼中。支腳從儀器底部伸出，插針有保護套。保護套一側的槽用于調節插針，插針通過一塊玻璃板的平面調節，此配件包括在供貨范圍中。帶附件的表盤裝在一個盒子中。

erichsen233干膜測厚儀測試方法：
測量程序
1)設置
取下保護罩，將儀器垂直放在玻璃板平面上，如果指針讀數不為零，可以通過保護套中的槽調節，直至指針達到零位，。
2) 測量點準備
在測量點處，涂層需被小心刮開一個 3mm 的區域，直至達到基材。
3) 測量
將儀器放在測量區域上，使插針接觸到裸露基材，干膜厚度能直接讀出，單位 μm 。
如果是柔軟涂層，可在支腳下墊一塊剃刀。

訂貨信息：
訂貨號            型號    測量范圍     讀數精度
0009.01.31   233      0~1000μm    5μm
 

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