影響
涂層測厚儀測量值準確性的因素
1、基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
基體金屬的導電性能對測量結果有影響，基體金屬的電導率與其材料組成和熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
2、基體金屬厚度
每個儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于此厚度，測量不受基體金屬厚度的影響。
3、邊緣效應
涂層測厚儀對樣品表面形狀的陡度很敏感。因此，在試樣邊緣或內角附近測量是不可靠的。
4、 曲率
試樣的曲率對測量有影響。這種效應總是隨著曲率半徑的減小而增大。因此，彎曲試樣表面的測量是不可靠的。
5、試件的變形
頭部使軟蓋標本變形，因此無法在這些標本上測量到可靠的數據。
6、表面粗糙度
基體金屬和涂層的表面粗糙度對測量有影響。隨著粗糙度的增加，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差。在每次測量中，應增加不同位置的測量次數，以克服這一偶然誤差。如果基體金屬是粗糙的，也必須從粗糙度相似的未涂層基體金屬試樣上取下幾個位置，或者，在涂層用不腐蝕基體金屬的溶液溶解后，必須再次檢查儀器的零點。
7、附著物質
涂層測厚儀對防止探針與覆蓋面緊密接觸的粘著材料很敏感。因此，必須除去附著物，以確保探頭與試件表面直接接觸。
8、 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
9、測頭的取向
測頭的位置對測量有影響。測量時，測頭應垂直于樣品表面。
